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GB/T 38114-2019（化学滴定法测含氧官能团）
T/GDASE 0010-2020（石墨烯薄膜电子迁移率测定）
ASTM F76-19（四探针法标准）
方块电阻：四探针法直接测量，单位为 Ω/□，值越小导电性越好。
电子迁移率：霍尔效应法计算，反映载流子运动速度，单位为 cm²/(V・s)。
载流子浓度：霍尔效应法结合迁移率推算，影响材料导电类型（n 型 /p 型）。
百检整合半导体行业资源，提供电学性能一站式检测：
设备先进：配备高精度四探针测试仪与霍尔效应系统，支持室温至液氮温度测试。
费用透明：四探针法单次检测低至 300 元，霍尔效应测试可享批量折扣。
报告权威：出具符合 ASTM、GB 等标准的中英文报告，支持出口认证。
应用场景：
柔性屏：石墨烯导电薄膜需满足方块电阻 < 100 Ω/□。
传感器：高迁移率石墨烯提升气体响应速度。
集成电路：载流子浓度调控影响晶体管性能。
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